蝕刻工藝基本原理(lǐ)
蝕刻工藝基本原理
蝕刻是通過化學或物理方法去(qù)除(chú)材料表麵(miàn)特定區域(yù)的技術。該工藝利用腐蝕性溶(róng)液或等離子體與材(cái)料(liào)發生反應。材料暴露部分發生溶解,被保護(hù)部分保持原狀。反應過程受溫度、濃度和時間三個參數控製。
工藝流程(chéng)分解
基板清洗:使用丙酮、酒精或(huò)去離子水去(qù)除表麵汙染物
光(guāng)刻膠塗覆:旋轉塗布法在基板表麵形成(chéng)均勻光阻層
曝光顯影:紫外線通過掩模版照射,溶解未曝光區(qū)域光阻
蝕刻處理:將基板浸(jìn)入蝕刻液或置於等離子體反應室
去膠清洗:使(shǐ)用專用(yòng)溶劑去除殘餘光阻
質量檢驗:顯微鏡檢(jiǎn)查線寬精度(dù)和表麵形貌
化學蝕刻方法(fǎ)
硝酸-氫氟酸(suān)混合液用(yòng)於矽片蝕刻 三(sān)氯化鐵溶液適用於銅電路板加工 氫氧化鉀溶液可進行各向異性矽蝕刻(kè) 鹽酸-過(guò)氧(yǎng)化氫體係用於金屬表麵處理(lǐ)
物理蝕刻技術
反應離子蝕刻(kè)通過(guò)等離子(zǐ)體轟(hōng)擊材料表麵 濺射蝕刻利用惰性氣體離子物理撞擊(jī) 激光蝕刻(kè)采用高能光(guāng)束汽化材料 幹法蝕刻在(zài)真空環境下進行(háng)
精度控(kòng)製要素
掩模版對準精度影響(xiǎng)圖形位置 蝕刻液濃度決定反應速率 溫度波動導致(zhì)蝕刻不均勻(yún) 時間控製影響側壁垂直度
工業應用領域
半導體晶圓製造需要亞微米級蝕刻 印刷電路板生產采用批量(liàng)蝕刻(kè)工藝 金屬(shǔ)標牌製(zhì)作使用大麵積蝕刻技術 微機電係統依賴高深寬(kuān)比(bǐ)蝕刻(kè)
工藝發展趨(qū)勢
原子層蝕刻(kè)實現單原子層去除 納米壓印結合蝕(shí)刻降低生產成本 自停(tíng)止蝕刻技術提高製程可控性 環境友好型(xíng)蝕刻劑研(yán)發持續推(tuī)進
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